PSS 亚微米粒径电位检测仪Nicomp 380 ZLS&S

产品介绍：

nicomp380zls粒度检测分析仪复合采用 gaussian 单峰算法和拥有专利技术的 nicomp 无约束自由拟合多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。

nicomp 380 zls通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量zeta电位。zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。整机采用模块化设计，功能扩展灵活方便。独特的样品池设计使得进样方便快捷、用样量少，无须进行繁琐的样品池校准。

动态光散射法(dls)：有时称为准弹性光散射法（qels），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用Zui新技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。

els 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。

Zui新的 pals（phase analyze light scattering）技术

pss 于 2004 年推出领先的 pals 技术，用相位（phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 zeta 电位的分析。

本产品的加工定制是否，品牌是PSS，型号是Nicomp380ZLS&S，类型是激光粒度仪，测量范围是小于1nm（um），测量准确度是1（%），测量重复性是1（%），测量时间是1（s）