X射线荧光光谱仪 |抄板|解密|样机调试成功案例

产品指标：

测厚技术：x射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：si-pin电制冷   

探测器分辨率：145ev

高压范围：0-50kv，50w

x光管参数：0-50kv，50w，侧窗类；

光管靶材：mo靶；

滤光片：专用3种自动切换；

ccd观察：260万像素

微移动范围：xy15mm

输入电压：ac220v，50/60hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：usb2.0模式

准直器：ø1mm，ø2mm，ø4mm

软件方法：flexfp-mult

工作区：开放工作区 自定义

样品腔：330×360×100mm

 

标准配件

样品固定支架1支

窗口支撑薄膜：100张

保险管：3支

计算机主机：品牌+双核

显示屏：19吋液晶

打印机：喷墨打印机

 

可选配件

可升级为sdd探测器

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