BGA测试仪/芯片静态测试/深圳BGA测试生产/优质，服务好

目前ic使用率增长随之不良率及反修率也越来越高，pti818bga测试仪可以测试ic各脚之间开短路，对gnd和vcc的clamp diode,对地及相关脚的电阻及电容，对ic上电，量测关键点的电压等手段检测出不良ic，并能对不良情况进行统计，以便做分析并查找对策。此方式对ic可测率达到98%以上。将是ic测试的实惠快速测试的变革，为bga封装不良返修测试提供行之有效测试解决方案。

详细介绍：

产品特点：

  

§模块化设计，为扩展多种功能提供了测试平台。

§丰富的测试信号源及reed relay switching board,大大的保证了稳定性和测试覆盖率。

§测试程序全部自动生成并atpd（auto test program debug）。

§ board view功能可即时显示不良脚位，针点位置，方便检修。

§完整丰富的测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据。

§ pti818 bga测试仪系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

§支持gpib外围设备扩展功能。

 

 

 

 测试项目：

§    封装与晶圆锡球接点的开短路测试。 §    ic内部的开短路测试。 §    ic内的保护二极体测试。 §    pin to pin、pin to gnd、pin to vcc　阻抗比对测试。 §    pin to pin、pin to gnd、pin to vcc　电容比对测试。 §    ic载板上元器件值的测试 。 §    对ic上电，测试关键点的电压，来检测内部功能。 §    通用gpib扩展来量测ic关键点波形，频率等参数。

系统规格                                

测试点数:

        标准配备:320点                               

          大型主机:可以扩充至4096点                                  

测试项目:     

       Zui大测试步骤:300000setp                                 

测试时间:     

       开路/短路测试:每1000点约≤1sec(typical dut)                     

测试范围:

   电阻: 0.01ω至40mω                                   

     电容:0.1pf至10000uf                             

     电感：1.0uh至60h                                

     二极管/三极管：0.1至9.99v                            

      zener diode:标准0.1v至50.0v                               

功能测试：0.00v至50v                                      

软体系统：    "支持winxp,win2003,winvisat/多语言"

 应用领域：

 

一，ic品质不高的来料检查，查出率在99.5%以上，且速度快。

二，大批量返修ic的检测。

三，不良ic的故障原因的查找及统计，以便改进设计。

本产品的加工定制是是，品牌是派捷，型号是PTI-818，测量范围是1%-99%，测量精度是1%，电源电压是220V（V），尺寸是1000/600/800（mm），重量是130（kg），用途是各种IC来料检测