产品特点及用途
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结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪,不需要复杂光路调整程序、兼顾体积小、纳米分辨率、、易学易用等优点、可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量,适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含: |
★ 晶圆(wafer)
★ 光盘/硬盘(dvd disk/hard disk)
★ 微机电组件(mems components)
★ 平面液晶显示器(lcd)
★ 高密度线路印刷电路板(hdi pcb)
★ ic封装(ic package)
以上其它材料分析与组件微表面研究
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本产品的类型是白光干涉仪,品牌是WH,型号是BAI,发货期限是2