日本日立SFT110XRF萤光镀层厚度测量仪
更新时间:2016-08-19 09:25:03 信息编号:2862136 发布者IP:113.80.108.163 浏览:151次- 供应商
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- 品牌
- 日立
- 型号
- SFT110
- 关键词
- 日本,日立,SFT110,XRF,X射线 ,萤光 ,镀层厚度,测量仪,膜厚仪
- 所在地
- 东莞市长安镇长盛东路中盛商务大厦3楼
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产品详细介绍
即放即測:無需人工對焦造成誤差,測量結果更可靠;
測試速度快:3秒自動對焦,10秒鍾完成50nm級極薄鍍層的測量;
無標樣測量:與以往的技術相比,薄膜fp軟件得到進一步擴充,即使沒有標准品也能精確測量;
多鍍層測量:Zui多能夠進行5層的多鍍層樣品測量;
廣域圖像觀察:能將樣品圖像放大5到7倍,並對測量部位精確定位;
低成本:較以往機型價格降低了20%。
sft-110通過自動定位功能,僅需把樣品放置到樣品臺上,就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此,無需進行以往的手動逐次對焦的操作,大大提高了樣品測量的操作性。
近年來,隨著檢測零件的微小化,對微區的高精度測量的需求日益增多。sft-110實現微區下的高靈敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
同時,sft-110還配備有新開發的薄膜fp法軟體,即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量,可對應更廣泛的應用需求。
可從Zui大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置,另有機倉開放式機種,可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量
低價位也是sft-110的特點,與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。查看其它膜厚儀:http://www.techmaxasia.com/products/detail/6
膜厚儀作為可靠的品管工具,可針對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理,可保證產品的功能及品質,降低成本。
sft110可降低成本如下:
˙節省材料費,
全球資源緊缺已是大勢所趨,企業的材料費也是節節攀高;尤其是表面處理工作中所用到的貴金屬更是一漲再漲,比如眾如周知的黃金au已從十幾年前的百餘元每克上漲到三百多元,以印刷電路板廠每年產量幾十萬套為例,根據業界經驗如果能更好控制鍍層厚度,企業每年可節約上千萬的費用。
˙減少工期(作業人工)
通過x射線儀來評價,管理產品可以輕松知曉產品能發揮Zui大功能時的Zui小鍍層厚度,從而避免重復電鍍造成的電費和人工費的流失。
˙減少修理,修補等產生的制作費用
通過x射線儀可避免鍍層不均或太薄造成的品質問題,以及後續的返工造成的費用。
測量元素 |
原子序號22(ti)~83(bi) |
鍍層測試軟體 |
薄膜fp法 |
x射線管 |
管電壓:50kv 管電流:1ma |
薄膜檢量線法 |
|
檢測器 |
比例計數管 |
測量功能 |
自動測量、中心搜索 |
准直器 |
0.1mmφ, 0.2mmφ |
定性功能 |
kl標記線、對比顯示 |
影像視窗 |
ccd攝像機(帶倍率放大功能) |
安全功能 |
樣品門安全防護機構 |
x-ray station |
電腦+19英寸液晶顯示器 |
使用電源 |
100~240v/15a |
樣品台移動量 |
250(x)×200(y)mm |
樣品Zui大高度 |
150mm |
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