特 性
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说 明
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类 型
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xf-r 400 –
1:直径约25mm,高灵敏度,低分辨率,可以距离被测物10cm使用,检测场的分布,用于磁场源定位,分析干扰源。
频率范围 30 mhz-6 ghz。
直径约25mm。
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xf-r 3 – 1:探头尺寸小,分辩率为毫米级。
在布线、ic管脚、旁路电容及emc元件等区域,通过移动探头,可以检测磁场的分布和方向。
频率范围30mhz-6ghz。
分辨率约1 mm。
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rf-b 3-1:用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。
对于pcb有些有遮挡部分的电路,可能无法用xf-r 3 –
1测量场方向,这时可以使用rf-b3-1来测量。
频率范围30mhz-6ghz,分辨率约2mm。
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xf-u
2,5-1:用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、ic管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口,测试时将这个缺口放在布线、ic或电容器的连接点上。
频率范围30mhz-6ghz,分辨率约0.5mm。
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xf-e 10:探头的仅有0.5
mm宽,用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计,能防止邻近导线对测试结果的影响,能对每根导线进行单独测量。
频率范围30mhz-6ghz,分辨率约0.2mm。
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本产品的品牌是EMCDIR/容向,型号为XF1