HCP650-PM温控探针台 可搭配显微镜/光谱仪使用 防止负温下结霜，高温下氧化

HCP650-PM温控探针台

一、温控探针台简介：

HCP650-PM温控探针台可单独使用，也可搭配显微镜／光谱仪使用。 其可在－190°C ~ 600°C范围内控温，同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。 探针台上盖与底壳构成—个气密腔，可往内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。

HCP650-PM温控探针台，是一款温度范图－190°C~600°C 的温控探针台。 使用时还可对样品气氛进行控制。 这样即使在极低温度下，腔体也不产生结霜影响实验， 又可以防止样品发生氧化。此款温控探针台通过杠杆式支架， 使用的是弯针探针。 相比传统的直针探针， 这种设计不仅点针更准确， 而且点针力度更大， 和样品的 电接触性更胜一筹。

冷热台可配合KEITHLEY Keysight等测量源表进行电学性能测量。

二、温控探针台产品特点：

1、可编程精密控温。可独立控制

2、探针需开盖移动，样品台面电接地

3、4探针，分别导通冷热台外壳上的4个BNC接口杠杆式探针支架，电接触性更好，弯针探针，点针更精准

4、默认气密腔室，2个快速自锁接头，可充保护气体 上盖带有样品观察窗

5、内置干燥气体管道，用千负温时对视窗的除霜

6、视窗可拆卸与更换，不同材质窗片实现不同观察

电学参数：

三、温控探针台温控参数：

温度范围－190°C ~ 600°C （负温需配液氮制冷系统)

传感器／温控方式 1000铅° RTD / PID控制° （含LVDC°降噪电源）

Zui大加热／制冷速度：＋80 (/min (100 (时）－50 (/min (100°(时）

Zui小加热／制冷速度：±0.01°C /min

温度分辨率：0.01°C

温度稳定性：±0.05°C（>25°C），±0.1°C（>25°C）

软件工程：可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线

加热参数

加热区/样品区： 28mm x30 mm

样品腔高：6.3mm *样品Zui大厚度由探针决定

放样：打开上盖后置入样品再点针，关上盖后无法移动探针

气氛控制：气密腔，可充入保护气体

外壳冷却：可通循环水，以维持外壳温度在常温附近

安装方式：水平安装或垂直安装

台体尺寸／重量：180mm x 130 mm x 26 mm/ 1500g