北京华瑞森TIR 100-2红外发射率测定仪
更新时间:2021-11-16 10:29:56 信息编号:2714425 发布者IP:114.241.31.50 浏览:87次![](http://image.11467.com/3/5/2157391963.jpg)
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产品详细介绍
北京华瑞森科技tir 100-2红外热发射率测定仪
产 地:德 国 (原装进口)
tir100–2红外热发射率测定仪,应用范围广泛,可在数秒钟内快速确测定物体表面热发射率,实为测量发射率进行有效质量控制的理想设备。
tir
100-2可在数秒钟内测量物体表面的热发射率。即使是特殊结构和曲面也可以直接测量,该设备自成一体,包含全部操作和电子元件,可测量和处理传感器信号和显示数据,以及控制黑体温度。
tir 100-2是众所周知的tir 100的更新设备,我们不但在tir 100-2中融入了tir
100的可靠技术,还高度集成了电子元件和舒适的触摸屏使设备更加轻巧和易于使用。
内部微控制器可将发射器温度调节至恒定的100℃,同时记录传感器信号并配合存储的标准值将其转换为发射率的值。
大屏幕led显示设备的状态,测量结果和操作菜单,触摸屏面板确保所有功能轻松实现。设备的核心部件是半球形的黑体,由于发射器涂有黑色涂层,因此具备近乎理想黑体的所有属性。发射器的工作温度为100℃,黑体外壳的其余部分与发射器热绝缘。因此在仪器运行过程中仅产生轻微热量。
仪器内部的逆向热熔丝防止发射器加热时产生过多热量,并可在125℃中断加热过程。
热电堆传感器将反射的热辐射转换为电压信号,超过97%的辐射能的波长在2.5 μm和40 μm范围之间。
应用:
1.镀膜玻璃的质量控制
热保护绝缘玻璃的的低u-值取决于玻璃镀膜的低发射率,tir 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。
2.太阳能收集器生产的质量控制
优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率,因此tir 100也是此行业质量控制的理想设备
技术数据
测量范围 < 0,020 … 0,980
精度 +- 0,002
光谱范围 2,5 μm - 40 μm
辐射能Zui大值 8 μm
黑体温度 100 °c
积分时间 5秒
测量点 ~5 mm
额定功率 130 w(230 v~/115 v~ (opt.))
尺寸 230毫米x 140毫米x 120毫米
重量 2公斤
校准用标准 低发射端:抛光铝
高发射端:黑色遮光罩
参考发射率 低发射端标准值~0,02
高发射端标准值~0,98
个别校准可参考国家物理实验室校准标准
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