原装CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪 漆膜测厚仪

1.可测量涂镀层：任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度；任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度；

2.测量厚度：0~1250um(0~49.21mils)

3.连续和单次测量方式

4.直接工作模式和组工作模式

5.可统计并显示：平均值/Zui大值/Zui小值/标准方差/统计数

6.非常方便的进行一点或两点校准

7.可保存400个测量数据（80个原始数据和320个组数据）

8.usb传输数据至计算机分析统计

9.实时删除测量数据和组数据

10.高低限报警

11.低电和错误提示可设置的自动关机功能

12.易操作的菜单设计

1.工作模式：

1-1.aoto：探头根据待测物体性质(铁磁性物质或非铁磁性金属)自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质，探头将转入磁感应原理工作模式；如果待测物体时非磁性的金属物质，探头将转入涡流原理工作模式。

1-2.fe：探头将是磁感应原理工作模式。

1-3.no-fe：探头将是涡流原理工作模式。

2.直接测量(dir)：开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下，测量数据会临时保存在内存中，可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值，但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式，这些数据将会丢失。此模式下，Zui多可统计80个数据，超出的Zui新读数将替换Zui旧读数并保存更新统计值。

3.组测量(gr01~gr04)：每一组工作模式下，系统可保存Zui多80个数据，5个统计值。关机和掉电，所有保存值不会丢失，并且组与组之间相互独立不受影响，需要删除保存的值，可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个，数据测量可以继续进行，但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要，可通过菜单删除组数据。

4.读数浏览：通过“measurement view”菜单项，浏览当前工作组所有测量读数。

5.测量中的统计数据：厚度统计数据可统计80个读数(gr01~gr04总共Zui多可存储4*80=320个读数)。此外，在dir模式除了读数不存储外，其他和gro模式相同。

no.：开机以来进行统计的读数个数

avg：平均值

sdev：标准方差

max：Zui大读数

min：Zui小读数

测量方法

1.按开关键开机。

2.如果被测涂层的基体是磁性金属基体，则用出厂配备的圆形铁基进行零校准，将探头平稳放在铁基上，如果测出来的数据不是在-1~1um之间，则按zero清零键进行零校准，零校准后测量下自带的相对应的校准片，看下测出来的数据是否在正常误差范围之内，如果是则可以直接用于测量，如果不是则重新进行零校准，非磁性金属基体则选择方形铝片铁基进行校准，校准方法和铁基一致。