X-RAY镀层膜厚仪
更新时间:2013-10-14 15:10:30 信息编号:2498074 发布者IP:14.155.121.230 浏览:53次- 供应商
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产品详细介绍
博曼x-ray镀层膜厚仪是利用x射线荧光(xrf)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
bowman是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式x射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
博曼(bowman)x-ray膜厚仪提供:
(1)无损分析:无需样品制备
(2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
(3)操作简单,只需要简单的培训
(4)分析只需三步骤
(5)杰出的分析准确性和性
(6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
(7)使用功能强大、操作简单的x射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
博曼(bowman)x-ray镀层膜厚仪可分析的样品种类繁多,包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等,检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围,覆盖元素周期表中从al13到u92间的元素。
它的优势有高性能、高精度、长期稳定性:快速的分析带来生产成本Zui优化,测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作
,生产人员易于使用.简单的校准调试:在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供认证标准片以确保度(a2la
和 iso/iec17025),预置了多种校准参数.
如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!联系人:舒翠 136 0256
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