晶片晶锭电阻率测试仪
更新时间：2024-05-03 09:00:00 信息编号：23409874 发布者IP：114.219.118.114 浏览：28次
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- 九域半导体科技（苏州）有限公司 商铺
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- 涡流法,晶锭,晶片,非接触式,无损
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产品详细介绍
电阻率是材料Zui重要的电参数之一。它是半导体器件(如太阳能电池)性能的关键参数,并取决于材料的掺杂密度。因此,为了检测掺杂密度的不均匀性,需要对电阻率进行高精度、高分辨率的测量。
相关产品：涡流法 , 晶锭 , 晶片 , 非接触式 , 无损
主要经营：晶圆电阻率测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、迁移率（霍尔）测试仪、少子寿命测试仪、PN型号、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV。为碳化硅、硅片、氮化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。
公司成立于2021年，是一家注册在苏州、具备世界领先技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体，主要攻克国外垄断技术，替代进口产品，使半导体材料测试设备国产化。主要产品 ...
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