ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF)
Thermo Scientific ARL QUANTX
EDXRF光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度,打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计,ARL QUANTX EDXRF
光谱仪的功能和灵活性可Zui大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF)
分析技术可通过简易的样品制备,实现主量、次量和痕量元素分析,所分析样品范围广泛,可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。
先进的技术
独特的Peltier电制冷Si (Li)检测器 数字脉冲处理(DPP)技术 高性能、多元素分析
主要功能
出色的痕量分析灵敏度 高分析量的进程控制 适用于异常材料的分析算法 出色的样品处理灵活性 机械简化和灵活性 占地面积小、易于运输以进行野外测量 快速、简易的安装以及可完全现场定制 随附完整的实验室启用套件 经验证的硬件和全套软件 现场、协同方法开发 完整的技术应用支持 汇集了数百种应用的专业知识
功能强大、易于使用的 WinTrace*软件
无标和半无标分析 基本参数(FP)和基于标样的经验方法 多层厚度及成分 不限元素、不限数量的标样 利用自动化操作实现多个激发条件
可用于:
悬浮颗粒物过滤器 符合RoHS及WEEE的分析 法医及痕量分析 营养补充剂 磁性介质和半导体 土壤污染 过滤器上的薄膜 塑料中的有毒元素