X-4A 显微熔点仪
更新时间:2012-12-28 11:05:24 信息编号:2185882 发布者IP:117.22.123.184 浏览:46次- 供应商
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产品详细介绍
产品介绍该产品利用物质熔化过程中透光率的变化来测量熔点。光电检测,微机控制,加热速度由程序控制,LED显示较大和更方便读数。初熔、终熔、温度自动显示,自动控制温度速率,使测量熔点更快更。WRS-1B带RS232接口,软件显示熔化曲线产品属性
上海物光X-4A 显微熔点仪器未经过特殊加工定制使用方法熔点测量范围:室温至320℃ 测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) 温度显示Zui小值:0.1℃ 熔点观察方式 单目显微镜 光学放大倍数
40×主要特点测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。主要技术参数:注意事项1、样品必须要求烘干,在干燥和洁净的碾钵中碾碎。2、设定起始温度切勿超过仪器使用范围<300℃否则仪器将损坏其他说明熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时) ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) 温度显示Zui小值:0.1℃ 熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×交易说明更多产品信息请咨询,联系人 陈先生