新型全自动介电常数介质损耗测试仪

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、介电常数介质损耗试验仪概述GDAT高频Q表作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。GDAT高频Q表采用了多项技术：双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术-对测试件实施Q值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q值、信号源频率、谐振指针。DDS数字直接合成的信号源-确保信源的高葆真，频率的高、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路残余电感减至低，彻底根除Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。一、介电常数介质损耗试验仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。主要技术特性Q值测量范围2～1023，量程分档：30、100、300、1000，自动换档或手动换档固有误差≤5％±满度值的2％（200kHz～10MHz），≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差≤7％±满度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围4.5nH～140mH电容直接测量范围1～200pF主电容调节范围18～220pF主电容调节准确度100pF以下±1pF；100pF以上±1％信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz频率分段（虚拟）100～999.999kHz，1～9.99999MHz,10～99.9999MHz，100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用一.概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BD916介质损耗测试装置技术特性平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选　　　　　极片间距可调范围：≥15mm2.夹具插头间距：25mm±0.01mm3.夹具损耗正切值≤4×10-4（1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm电感：线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz，50MHz233，2110.90.125μH北广公司其它绝缘材料检测仪器:BDJC-0-100KV介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列电压击穿试验仪BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪EST-121体积表面电阻率测定仪GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪