安捷伦5530 激光干涉测量系统
更新时间：2013-10-24 15:07:11 信息编号：2098826 发布者IP：125.70.74.81 浏览：75次
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产品详细介绍
名称：安捷伦5530 激光干涉测量系统
描述：Agilent 5530 动态校准器提供现有的Zui高精度，用于测量、校准和验证精密的机床和坐标测量机（CMM）设备。
主要特性与技术指标
主要特性：
1． 系统组成
激光头、激光头电缆、遥控器（包括镜组和硬件）、USB雷射量测模组、USB感测器集线器、空气传感器、材料传感器、传感器电缆、激光头装运箱、三脚架、三脚架的装运箱等
2. 总体精度: 0.4ppm
比市场上其他供应商 20%
3. 传感器精度：
材料温度： +/- 0.1°C
空气温度： +/- 0.1°C
空气湿度： +/- 5% 相对湿度
空气压力： +/- 50 pa
4. 系统功能
测量机床的定位精度
提供补充数值以修正机械误差
协助诊断几何问题
以八种分析机械的性能
提供机床性能校准
5. 主要好处
提供Zui高的准确性
溯源到NIST的测量工具
便携设计
无与伦比的使用寿命可靠性
技术指标：
1. 功率要求
激光头:
100-240Vac,50/60Hz
50W(预热中)，33W（预热后）
电压和电流（经由USB提供，+5V电源）
E1735A Zui大280 mA（加上55290B）
E1736A Zui大120 mA（加上传感器）
E1737A Zui大6 mA，通常0.3mA
E1738A Zui大6mA，通常0.6mA
55290B Zui大250 mA
2. 系统要求
环境
操作温度：0-40度
为满足度要求光学组件温度必须稳定在+/-2度
3. 电脑要求
装有Windows XP或Vista系统，两个USB插口，光驱
· 空气温度： +/- 0.1°C
· 空气湿度： +/- 5% 相对湿度
· 空气压力： +/- 50 pa
