按键寿命试验介绍，键盘，鼠标，遥控器，手提电脑，墙壁开关，收银机等按键检测

按键寿命试验

详细介绍：

1.目的：

制定规范的操作指引，提供试验人员进行按鍵寿命试验；

模拟用户日常使用电话的情形，试验在不同部位的按鍵寿命情況。

2.范围：

适用于所有电话机成品(除客户特殊要求外)以及物料。

3.参考文件：

W Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.

W Reliability Test Items for Vtech Europe Products.

4.定义：

无。

5.责任：

试验申请者提供试验功能正常的样品，并填写试验申请单；

实验室负责人负责完成所有的可靠性测试，并以E-Mail形式将试验结果通知Project Leader和申请者，试验完毕后发出的正式的报告，并将样品退还申请人；

对于Failure的项目，实验室负责人要在當天内通知相关负责人员，并协助分析Fail的原因；

相关部门在必要时提供改善行动，并且送改善后的Sample到实验室，重做测试，以确认改善行动是否有效。

6.程序

冲头的调校及安装(按鍵寿命测试)；

逐一调校冲头上的弹簧行程，用弹力计测量,使之符合按压距离 3.0±0.2mm时压力为450~600g；

将调校好的冲头正确地安装在冲压机上；

做按鍵寿命试验，VTECH标准要求如下：

机械寿命次数

试验过程中需每一万次停下来检查一次，如有问题需详细记录。

7.试验要求

试验中和试验后按鍵功能正常；

试验中和试验后按鍵有任何的机械损坏都是不可以接受的