XRF仪器XRF测试仪XRF仪无卤测试X荧光光谱仪
更新时间:2014-01-20 17:17:07 信息编号:2009237 发布者IP:113.83.191.168 浏览:91次- 供应商
- 纳优科技(北京)有限公司 商铺
- 认证
- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第12年主体名称:纳优科技(北京)有限公司组织机构代码:911103026932750734
- 报价
- 人民币¥888.00元每台
- 所在地
- 北京市海淀区白家疃尚峰园3号楼4层515
- 联系电话
- 86-075533625251
- 手机号
- 15899538701
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产品详细介绍
惠州XRF检测仪,深圳X射线光谱仪,东莞能量色散XRF 型号:NDA200
新品【免拆分】 详细参数欢迎来电咨询,电话:(徐生) 应用领域 ►RoHS指令筛选检测 ►无卤指令筛选检测 ►玩具指令筛选检测 ►金属镀层测厚 ►合金成分分析 技术特点 ►配置Zui新专利技术“样品免拆分”检测模式:采用Zui新专利技术的光路结构,Zui小照射光斑直径可达到0.5mm,辅以的光斑定位系统,从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求 ►配置符合中国国家标准的样品混测功能:方形4mmⅩ4mm光斑设计,配合0.5mm光斑配合使用,能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能;从而显著节省测量时间,大幅度提高检测效率 ►配置ON-Line实时在线技术支持系统(选配):实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题,同时对用户操作人员进行培训 ►配置十六组复合滤光片:NDA200型配置了16组复合型滤光片,是业界配置Zui全、数目Zui多的配置之一;16组滤光片的配置,极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性 ►内置标准工作曲线:仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线,方便用户直接使用;并与的认证检测实验室保持一致 ►具备开放的工作曲线技术平台:基于开放的工作曲线技术平台,电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线,确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性 ►分析软件操作系统分级管理:仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单,便于工厂有序管理;操作员菜单简单直观,避免仪器重要参数的误修改;工程师菜单功能强大,仪器的各种参数设置权限全部开放给用户 ►采用经典的迷宫式辐射防护结构:采用了经典的迷宫式辐射防护结构,在保持仪器外形美观操作方便的同时,彻底杜绝低能散射X射线的泄露 ►可选配专利技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能:纳优科技独创的“影响权系数法”多层镀层测厚技术,显著提高镀层厚度测量的准确度;Zui大可测量镀层数量为9层;彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题 ►外观设计实用美观:符合人体工程学的仪器外形设计,操作人员测量过程方便舒适 分析方法及系统软件 分析方法配置: ►基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法 ► 经验系数法 ► 理论α系数法 软件功能描述: ►RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析 ► 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素) ► 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析 ► 分析报告的自主定制与输出打印► 分析结果的保存、查询及统计► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能 ► 多层镀层厚度测量功能(选配) 主要配置► 美国Si-PIN电制冷半导体探测器 ►侧窗钼(Mo)靶管 ►标配16组复合滤光片 ►配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器 ►具备符合中国国家标准的样品混侧功能 ►内置标准工作曲线 ►配置On-line实时在线技术支持与服务平台 ►具备开放工作曲线技术平台 ►分析软件操作系统分级管理 产品参数 名称:X荧光光谱仪型号:NDA200输入电压:220¡À5V/50Hz消耗功率:¡Ü500W环境温度:15-30¡æ环境湿度:¡Ü80%(不结露)主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120主机重量:约60公斤 技术指标 元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素测量时间: 对聚合物材料,典型测量时间为200秒 对铜基体材料,典型测量时间为400秒检出限指标(LOD): 对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg 对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征: 对聚合物(塑胶)材料:LOD(Pb)≤15mg/Kg;LOD(Hg)≤15mg/Kg;LOD(TCr)≤15mg/Kg;LOD(TBr)≤15mg/Kg;LOD(Cd)≤7mg/Kg 对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg准确度指标,以系统偏差δ进行表征 对聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg 对铜基体材料:δ(Pb)≤150mg/Kg 应用示例:膜厚测试
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