品牌 | 国产 | 型号 | TO252-3L |
应用范围 | 集成电路IC | 种类 | 无 |
接口类型 | 无 | 读卡类型 | 其他 |
形状 | 翻盖 | 制作工艺 | 其他 |
特性 | 耐高温 | 针数 | 12 |
杭州汉瑞电子有限公司成立于1999年,专业从事半导体元器件老化测试座、老化测试板、老化测试设备的开发和生产。
公司投入大量资金和人力先后开发了100多个品种的高温老化测试座,一改过去老化测试座清一色进口的局面,不仅为广大客户降低了成本,而且大大缩短了采购周期。
2002年老化测试板系列质量全面升级,使用寿命延长50%以上,高温老化板整体品质遥遥领先国内同行,处于国际领先地位。
2003年,公司通过iso9001-2000认证,同年产品开始进入国际市场。
在全球半导体制造商中,公司已经拥有不少的客户,并与他们一直友好合作。
公司拥有经验丰富的专业人才和齐全的生产设备,随时可为您提供高效优质的服务。