BetaBenchMike测径仪

benchmike283系列高精度测径仪

--测量精度更高，测量速度更快

高质量的测量是测量仪表、测量方法及测试人员有机配合的整体。与传统的接触式外形几何尺寸测量仪表比较，benchmike中采用了激光非接触测量有理，对原始测量数据自动采集、处理、数字显示等技术，降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了整个测量的精度。在某些工业应用场合中，如产品出厂检验中，单位时间内须完成大量的测量。此时，在兼顾测量精度的同时，对测量速度提出了更高的要求。benchmike提供了高速dsp核心处理单元，友好界面的显示控制软件及多种接口用于数据及通讯，将使用者从繁重的测量中解放出来。

benchmike不仅是测量中心，还是一测量数据处理品中心，也是一测量数据交换中心。其具备的强大功能保证了其可应用于于广泛的领域，同时也使测量更加简单，特别需要指出的是对于一些柔软、易碎、辐射、高精度要求等传统接触测量束手无策的被测量任务，benchmike可提供满意的测量。

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测量原理

采用激光扫描原理进行测量，激光发生装置产生的激光，照射在马达驱动的高速旋转棱镜上，通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束，测试区间中的被测量物体遮挡光束形成的阴影，会在光电收集端形成信号的阶跃，阶跃宽度及位置决定了被测量物体的直径及在测试区间位置值等参数。

优点

■测量精度高，测量速度快。使本仪表可满足不同测量应用领域

■丰富的测量模式满足不同的测量应用。

■采用了全新数据处理技术，图形用户交互（gui）界面、快捷按键的使用使测量更直观、操作更便利。

■内含测量应用库及自编辑被测量功能，配合专门设计的夹具及多种输入/出口，使仪表具备良好的测量扩充能力。

■单点及双点自校准功能减少了使用条件的变化对测量的影响，使仪表的维护更方便。

benchmike 283系列性能指标

注：*此数据的获得是通过连续90次测量值中的Zui大变化值得出。单次测量值的获得是取200次单次扫描测量值的平均值，测试时在测试区间的环境变化应足够的小（Zui小和空气对流，Zui小的温度变化），测试中采用了低膨胀标准件，在测量中标准保持不变。

**线性度误差在出厂前获得，测量时环境温度为68ºf，相对温度为50%。测试时在测试区间的环境变化应足够的小（Zui小和空气对流，Zui小的温度变化），测试中采用了低膨胀标准件，在测量中标准保持不变。

z-mike 4025s

z-mike 4025s

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