T300系列分立器件开关参数(TS)测试系统

t300系列分立器件开关参数（ts）测试系统，主要用于测量三极管(npn/pnp)、场效应管(fet)、igbt、可控硅(scr)等分立器件的开关参数。它通过给半导体器件的控制极(b极、g极等)施加一个脉冲信号，看输出极(c极、d极、k极等)电压(或电流)变化的响应时间，开关时间取决于被测器件各pn结间的在正偏和反偏时各pn极上的结电容的大小，开关参数还取决于各极指定的电流和电压，另外还与温度有关，对应的参数有ts、tf、tr、ton、toff等等。
t300系列分立器件开关参数测试系统是一个完整的系统，采用32位mcu独立控制，本机自成系统，可单独完成编程、分类、测试，以及与分选机的联机接口等等。也可通过rs232(可隔离的)与上位机联机，可在上位机上编程，再下载。 测试结果也可上传到上位机，在上位机上进行统计分析，打印存档等等常规处理。