XN-5100落下量测分析仪

落下量测分析仪

在对产品进行抗冲击试验或对未知冲击事件进行分析时，落下测量分析仪将为您带来极大的方便。该分析仪符合mil-std-810、gjb-150-18-86及iec68-2-27标准，它具有精准、快速的冲击波形捕捉能力，Zui高采样率可达1mhz，您不必再担心哪怕很窄小的冲击事件被漏过。
它同时也是一个整合的解决方案，您不必忙碌于波形查看和记录，它可以从捕捉冲击事件到生成报告一并完成，更重要的是，它还为您提供了冲击响应谱（srs）分析功能，可以帮助您对于冲击脉冲对实际系统的潜在损伤进行有效的评估。Zui后，辅助的力变形、冲击响

应等分析可以帮助您了解冲击结果的更多细节。
有两种试验模式：典型冲击模式和冲击响应谱模式。典型冲击模式基于典型时域理想波形，适用于冲击台、跌落台等。冲击响应谱模式基于目标冲击响应谱，适用于冲击响应谱试验机。

产品特点

•符合mil-std-810，gjb-150-18-86，iec68-2-27标准，dell标准

•Zui高采样频率可达1mhz

•Zui大测试加速度100,000gn

•Zui小测试脉宽0.1ms

•多帧波形记录与回放

•支持内、外部触发

冲击波形瞬态捕捉
瞬态捕捉帮您得到单个或多个脉冲，系统自动分析冲击脉冲的峰值、脉宽、速度变化量、头部伤害指数hic等数据,自动将捕获的脉冲波形匹配到理想波形，并比较两者间的偏差。

冲击响应谱分析
冲击响应谱分析可对冲击产生的潜在损伤进行评估，为设计产品的抗冲击能力提供依据。系统对每个冲击脉冲进行srs分析，比较实际srs和目标srs的偏差。

其他分析
力变形分析、冲击响应演示、旋转冲击分析等冲击试验中必要的分析。力变形分析计算脉冲产生的力峰值、变形峰值、能量、效率等。冲击响应演示提供学习冲击响应谱的工具。旋转冲击分析用于旋转冲击机器或其他旋转控制事件，该信号由轴向加速度测量计算得到。