半导体测试probe探针探针台电性测试
更新时间:2023-11-09 16:32:16 信息编号:5413814 发布者IP:123.118.3.226 浏览:1125次- 供应商
- 仪准科技(北京)有限公司 商铺
- 认证
- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第7年主体名称:仪准科技(北京)有限公司组织机构代码:91110107596069163X
- 报价
- 人民币¥1.00元每台
- advanced
- 手动
- pw-400
- 4寸
- 台湾
- 新竹
- 关键词
- 探针台,probe,失效分析,半导体测试,元器件检测
- 所在地
- 北京市海淀区软件园广场
- 联系电话
- 01082825511-728
- 手机号
- 13488683602
- 芯片IC检测
- sunny 请说明来自顺企网,优惠更多
产品详细介绍
半导体领域探针台
在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中,经常要量测内部的电参数,由于制成的越来越低,没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台,销售实绩700多台,并且每年的销量稳居行业销量。行业知名客户有:友达光电、华映光电、奇美光电、群创光电、飞兆半导体、德州仪器、华虹集成、华为、电子五所、航天808所、航天201所、中科院微电子所、苏州中科院纳米研究所、复旦大学、上海交通大学、西安电子科技大学、温州大学、福州大学、厦门大学等等……
型号: PW-600/PW-800
规格:
chuck尺寸150mm(200mm)
X,Y电动移动行程150mm(200mm)
chuck粗调升降8mm,微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6~8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域:6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
型号:
PW-400
规格:
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm(选项)
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2~4颗
适用领域:4寸Wafer,如晶圆厂、LED、学术单位等
RF高频探针台
东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ (GSG,GS,SG)
Pitch 100~1500um
探针材料:BeCu/Tungsten
相关产品:探针台 , probe , 失效分析 , 半导体测试 , 元器件检测
主要经营:FIB双束,SEM,EDX,X-ray( 2D;3D),IC Bachside研磨,定点研磨;非定点研磨,探针台扎针,反应离子刻蚀机Dry Etching,体式显微镜;金相显微镜,微漏电侦测系统EMMI,Laser decap;自动开封;激光打标,IV,切割制样,高温储存试验,低温储存试验温,湿度储存试验
仪准企业集团是一家专业从事电子产品分析测试设备研发生产以及国外先进设备代理的整合商。旗下公司有仪准科技(香港)有限公司、上海仪准电子科技有限公司、仪准科技(北京)有限公司、台湾仪准科技有限公司,形成 ...
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