中图仪器光学3D表面轮廓仪带来全新测量体验

在半导体、超精密加工及微纳材料等领域，器件的表面质量直接关系着后期的产品质量和研究成果，中图仪器SuperView  W1系列光学3D表面轮廓仪，是一款分辨率达到亚纳米级别的光学检测仪器，助您轻松实现2D/3D表面粗糙度、轮廓测量，超高精度，“纳”么简单。

——　3D测量，一览无余　——

　　采用白光干涉技术，结合具有优异抗噪性能的3D重建算法，真实还原样品的每一个细节，随意翻转缩放，助您轻松观察、测量样品的任意特征。

——　功能强大，参数齐全　——

　　粗糙度、平面度、孔洞分析、顶点分析等3D测量功能全部囊括，距离、角度、直径测量等2D轮廓分析功能完全覆盖，更有依据ISO|ASME|EUR|GBT四大国内外标准的300余种特征参数，让您对样品的了解细致入微。

——　操作便捷，简单明了　——

　　直观的操作界面，让您对操作流程一目了然，自动聚焦，助您一键实现测量过程；可视化的工作流程树，一键激活的图库管理功能，所见即所得的同步分析功能，更有一键分析功能，批量测量不用愁。

 ——　超高重复精度，稳定可靠　——

　　采用了高精度扫描模块和独特的内部抗振设计，可实现*高0.05%的测量精度重复性和0.002nm的粗糙度RMS重复性，诠释始终如一的测量品质。

——　两种型号，量身定制　——

　　W1系列光学3D表面轮廓仪提供1100单镜头手动版和1200多镜头自动版两种机型，另可针对不同的客户需求，在两种型号间选取不同配置进行组合，让仪器完美切合客户需求，贴心更省力。

——　广泛应用，贴心服务　——

　　可测2D/3D轮廓、粗糙度，300余种特征参数……光学3D表面轮廓仪在半导体、超精密加工及微纳材料等领域可得到广泛应用，超光滑硅晶片表面粗糙度、超精密非球面弧面线粗糙度、金字塔型磁头夹角、微透镜阵列曲率半径……一个个来自客户的实际应用案例，让我们对这款产品充满信心，全程跟进的技术支持，为您提供贴心的服务。

　　中图仪器SuperView w1系列光学3D表面轮廓仪，为满足客户的应用需求而生。