扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)测试原理：
扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像，对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察，Zui大放大倍数可达30万倍，同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析。
SEM+EDS测试范围：
SEM的二次电子成像分辨率约3nm
背散射电子成像分辨率约300nm
EDS成分分析的元素范围Be～U
分析深度约1μm
检测下限约1%
空间分辨率约1μm
SEM+EDS常规服务项目：
各种固体材料的形貌分析
微区化学成分检测
样品成分的线分布和面分布分析
启威测材料测试平台提供以下检测服务：
1、可测试的材料：金属材料、无机非金属材料、聚合物复合材料；
2、材料微观形貌和分析：FT-IRSEM EDS AFM TEM
3、材料导热系数、热机械性能分析；
4、材料粒度、密度、接触角、比表面积等物理性能表征；
5、材料光谱吸收特性分析。
6、材料的性能测试
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