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SURAGUS 方块电阻测试仪 方阻测试仪

更新时间:2024-01-31 17:53:26 信息编号:4925027 发布者IP:222.128.57.30 浏览:82次
供应商
北京锐峰先科技术有限公司 商铺
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主体名称:
北京锐峰先科技术有限公司
组织机构代码:
91110108753330805F
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关键词
方块电阻测试仪 方阻测试仪
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北京市海淀区厂西门路2号吉友大厦4015室
手机号
13911457960
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产品详细介绍

SURAGUS 方块电阻测试仪  方阻测试仪  

SURAGUS EddyCus TF lab 2020 薄膜电阻和厚度测试仪 

薄膜电阻测试仪   薄膜面阻测试仪


TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻(方块电阻)及薄膜厚度测量的仪器。


特点


非接触与实时测量

的单点测量

依据多层系统的表征要求 

由一个易于操作的软件所引导的手工电阻分布图


参数

 

面电阻(方块电阻)(欧姆/平方)

金属层厚度(nm、μm)

金属基板厚度(μm)

各向异性

缺陷检测

完整性评定


应用


建筑玻璃(LowE)

触摸屏和平板显示器

OLED和LED应用

智能玻璃的应用

透明防静电铝箔

光伏

半导体

除冰和加热应用

电池和燃料电池

包装材料

材料


金属薄膜和栅格

导电氧化物

纳米线膜

石墨烯、CNT(碳纳米管)、石墨

打印薄膜

导电聚合物(PEDOT:PSS)

其他导电薄膜及材料


规格参数


面电阻(方块电阻)测量技术:非接触式涡流传感器

基板:例如:箔片、玻璃、晶圆,等等

基板面积:8 inch/ 204 x 204 mm (三面是开放的)

Zui大样品厚度/传感器间隙:1 / 2 / 5 / 10 / 25 mm(由Zui厚的样本确定)

薄膜面阻的范围:

低      0.0001 - 10 Ohm / sq; 1 至 5 % 精度

标准     0.01 - 1,000 Ohm / sq; 1 至 5 % 精度

高        10 - 100,000 Ohm / sq; 2 至 8 % 精度

金属膜的厚度测量:(例如:铜):2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)

装置尺寸(宽/厚/深): 290 x 140 x 445 mm / 11.4 x 17.5 x 5.5 inch 

重量: 10 kg

可用特色:薄膜面阻测量/金属厚度测试仪 


相关产品:方块电阻测试仪 , 方阻测试仪
所属分类:中国仪表网 / 其他光学仪器
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