SURAGUS 方块电阻测试仪 方阻测试仪
更新时间:2024-01-31 17:53:26 信息编号:4925027 发布者IP:222.128.57.30 浏览:82次- 供应商
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产品详细介绍
SURAGUS 方块电阻测试仪 方阻测试仪
SURAGUS EddyCus TF lab 2020 薄膜电阻和厚度测试仪
薄膜电阻测试仪 薄膜面阻测试仪
TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻(方块电阻)及薄膜厚度测量的仪器。
特点
非接触与实时测量
的单点测量
依据多层系统的表征要求
由一个易于操作的软件所引导的手工电阻分布图
参数
面电阻(方块电阻)(欧姆/平方)
金属层厚度(nm、μm)
金属基板厚度(μm)
各向异性
缺陷检测
完整性评定
应用
建筑玻璃(LowE)
触摸屏和平板显示器
OLED和LED应用
智能玻璃的应用
透明防静电铝箔
光伏
半导体
除冰和加热应用
电池和燃料电池
包装材料
材料
金属薄膜和栅格
导电氧化物
纳米线膜
石墨烯、CNT(碳纳米管)、石墨
打印薄膜
导电聚合物(PEDOT:PSS)
其他导电薄膜及材料
规格参数
面电阻(方块电阻)测量技术:非接触式涡流传感器
基板:例如:箔片、玻璃、晶圆,等等
基板面积:8 inch/ 204 x 204 mm (三面是开放的)
Zui大样品厚度/传感器间隙:1 / 2 / 5 / 10 / 25 mm(由Zui厚的样本确定)
薄膜面阻的范围:
低 0.0001 - 10 Ohm / sq; 1 至 5 % 精度
标准 0.01 - 1,000 Ohm / sq; 1 至 5 % 精度
高 10 - 100,000 Ohm / sq; 2 至 8 % 精度
金属膜的厚度测量:(例如:铜):2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)
装置尺寸(宽/厚/深): 290 x 140 x 445 mm / 11.4 x 17.5 x 5.5 inch
重量: 10 kg
可用特色:薄膜面阻测量/金属厚度测试仪
相关产品:方块电阻测试仪 , 方阻测试仪
主要经营:微电子、SMT、LCD、LED、光通讯、微机械等领域生产和检测设备、测试仪器、研发设备、易耗品及完善的售后服务
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