inTEST ATS-545-M ThermoStream高低温冲击测试机
上海伯东美国 inTEST高低温测试机中国总代理:TemptronicThermoStreamATS-545-M 温度范围 -75°C 至 +225°C；专利 ESD防静电保护设计，不需要液态氮气（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）冷却。ATS-545-M 是旧款高低温测试机Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！inTEST Temptronic超高速高低温测试机适用于电子元件、集成电路 IC、PCB 电路板的高低温测试。
TemptronicThermoStreamATS-545-M 技术参数：
型号 | 温度范围 °C | * 变温速率 | 输出气流量 | 温度 | 温度显示 | 温度 |
ATS-545-M | -75 至 + 225(50 HZ) | -55至 +125°C | 4 至 18 scfm | ±1℃ | ±0.1℃ | T或K型 |
* 一般测试环境下；变温速率可调节
inTEST Temptronic 高低温冲击测试机功能特点：
与友厂对比，inTEST ThermoStream 独有的专利自动复叠式制冷系统(auto cascaderefrigeration)保证低温，内置 AC交流压缩机，冷冻机(Chiller)特殊设计，制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境；专利 ESD 防静电保护设计
旋钮式控制面板，支持测试数据存储。
过热温度保护：出厂设置温度 +230°C
加热模式下，冷冻机可切换成待机模式，以减少电力消耗
干燥气流持续吹扫测试表面，防止水气凝结
与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比，inTESTThermoStream高低温测试机主要优势：
1、变温速率更快
2、温控精度：±1℃
3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供**且快速的环境温度。
inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。
inTEST高低温冲击测试机 ATS-545-M 尺寸
宽61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展*大 160 cm
标准*高操作高度 130.3 cm;(可选188 cm)
标准*低操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm)
噪音 < 65 dBA
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