上海光学中恒仪器 光切法显微镜9J 光洁度刻线划痕测量
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- 品牌
- 上光
- 型号
- 9J
- 所在地
- 中国 上海 上海市杨浦区 上海市大连路1548号18C
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- 86-021-65042200
- 手机号
- 13916693243
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产品详细介绍
用途:
光切法显微镜9j是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。其能判别国家标准gb1031-1995所规定测量范围1.0~80微米即原标准▽3~▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。
光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。
光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。
规格:
测量范围不平度 |
表面光洁度 |
所需物镜 |
总放大倍数 |
物镜组件 |
视 场 |
>0.8~1.6 |
9 |
60×n.a.0.55 |
510× |
0.04 |
0.3 |
测量不平度范围: 0.8~80 μm
不平宽度 用测微目镜: 0.7μm~2.5 mm
用坐标工作台: 0.01~13 mm
仪器重量: 约23 ㎏
外形尺寸: 约180×290×470 mm
不平宽度 用测微目镜: 0.7μm~2.5 mm
用坐标工作台: 0.01~13 mm
仪器重量: 约23 ㎏
外形尺寸: 约180×290×470 mm
仪器成套性:
⑴仪器主体 | ⑵测微目镜 | ⑶坐标工作台 | ⑷v 型块 |
⑸标准刻尺 | ⑹7×物镜 | ⑺14×物镜 | ⑻30×物镜 |
⑼60×物镜 | ⑽2.1w6v灯泡 | ⑾可调变压器220/4~6/5va |
本产品的加工定制是否,品牌是上光,型号是9J,测量范围是0.8~80μm,外形尺寸是180×290×470(mm),重量是28(kg)
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