三丰SV-C3100-4100粗糙度轮廓测量仪特价经销

产品简介
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 SV-C3100大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨

详细介绍

 

Formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)SV-C3100/SV-C4100

简单介绍
三丰表面粗糙度/轮廓测量仪 SV-C3100大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。
为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨；驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

特长：
本机为电动型支柱，触针式轮廓形状、表面粗度量测两用的复合机。
轮廓形状量测用Z轴检出器搭载Holographic光学尺（SV-C4100）、反射型光学尺（SV-C3100）。
表面粗度量测用Z轴检出装置，可对应ISO/新JIS。
检出器的滑动部为2段式，可提升检出器交换时的操作性。
资料处理软体，可做高难度的轮廓形状、粗度的评价解析。
资料处理装置的通讯系统使用RS-232C。

表面粗糙度测量

直线度:±(0.05+0.001L)μm*专用于需要高精度测量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L为驱动长度(mm)

符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的。

标准配置：高精度测头(0.75mN/4mN测力)，分辨率高至0.0001μm。

 

自动测量

在与CNC机型配套使用的众多外设选件的支持下，可实现自动测量。

 

轮廓驱动测量

X轴精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1轴精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*专用于需要高精度测量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L为驱动长度,H为测量高度(mm)

SV-C4100系列的轮廓驱动器配备了激光全息测微计测头，Z1轴宽／窄范围均能达到极高的精度和分辨率。

 

基本技术参数:

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花岗岩

重量

　主机:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

　控制器:14kg

　遥控箱:0.9kg

电源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主机)

 

轮廓测量技术参数:

X轴

　测量范围:100mm或200mm

　分辨率:0.05μm

　检测方法:反射型线性编码器

　驱动速度:80mm/s、外加手动

　测量速度:0.02-5mm/s

　移动方向:向前／向后

　直线度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X轴为水平方向上

　直线位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

　精度(20°C时)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L为驱动长度(mm)

　倾角范围:±45°

Z2轴(立柱)

　垂直移动:300mm或500mm

　分辨率:1μm

　检测方法:ABSOLUTE线性编码器

　驱动速度:0-20mm/s、外加手动

Z1轴(检测器)

　测量范围:±25mm

　分辨率:0.2μm(SV-C3100),

　0.05μm(SV-C4100)

　检测方法:线性编码器(SV-C3100),

　激光全息测微计(SV-C4100)

　直线位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)

精度(20°C时)±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)

*H:基于水平位置的测量高度(mm)

　测针上／下运作:弧形移动

　测针方向:向上／向下

　测力:30mN

　跟踪角度:向上:77°,向下:87°

(使用配置的标准测头，依表面粗

糙度而定)

测针针尖半径:25μm、硬质合金

 

表面粗糙度测量的技术参数：

X1轴

　测量范围:100mm或200mm

　分辨率:0.05μm

　检测方法:线性编码器

　驱动速度:80mm/s

　移动方向:向后

　直线度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)

0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)

Z2轴(立柱)

　垂直移动:300mm或500mm

　分辨率:1μm

　检测方法:ABSOLUTE线性编码器

　驱动速度:0-20mm/s、外加手动

检测器

　范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,

8μm/0.0001μm

(2400μm使用测头选件)

　检测方法:无轨／有轨测量

　测力:4mN或0.75mN(低测力型)

　测针针尖:金刚石、90º/5μmR

(60º/2μmR:低测力型)

　导头曲率半径:40mm

　检测方法:差动电感式

 

软件选件

DUALTRACEPAK

测量装置可自动运行，安装了表面粗糙度驱动装置后，表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自动启动。同样，安装了轮廓驱动装置后，形状分析程序FORMPAK-1000也自动启动。即使Formtracer已关闭，离线分析所需程序仍可从屏幕菜单中选出并运行。

 

ForMTRACEPAK

使用该软件可以控制马达驱动的Y轴工作台和旋转台选件，从而实现自动测量。使用该软件还可以进行轮廓评估，这项评估包括对级差，角度，深度，面积和其他基于表面粗糙度数据的特性进行分析。另外，还可以通过设置打印格式建立原始检测证书，以适应不同的需求。

 

性能参数：

 

 

型号
SV-C3100S4
SV-C3100S4
SV-C3100H4
SV-C3100H4
SV-C3100W4
SV-C3100W4

货号(mm)
525-421-1*
525-421-2*
525-422-1*
525-422-2*
525-423-1*
525-423-2*

货号(inch)
525-431-1*
525-431-2*
525-432-1*
525-432-2*
525-433-1*
525-433-2*
 

 

 

 

 

型号
SV-C4100S4
SV-C4100S4
SV-C4100H4
SV-C4100H4
SV-C4100W4
SV-C4100W4

货号(mm)
525-461-1*
525-461-2*
525-462-1*
525-462-2*
525-463-1*
525-463-2*

货号(inch)
525-471-1*
525-471-2*
525-472-1*
525-472-2*
525-473-1*
525-473-2*

X1轴测量范围
100mm
100mm
100mm
100mm
100mm
100mm

检测器测力
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN

垂直移动
300mm电动立柱
500mm电动立柱
500mm电动立柱

花岗岩基座尺寸(WxD)
610x450mm
610x450mm
1000x450mm

尺寸(主机、WxDxH)
996x575x966mm
996x575x1176mm
1396x575x1176mm

重量(主机)
140kg
150kg
220kg
 

 

 

 

型号
SV-C3100S8
SV-C3100S8
SV-C3100H8
SV-C3100H8
SV-C3100W8
SV-C3100W8

货号(mm)
525-426-1*
525-426-2*
525-427-1*
525-427-2*
525-428-1*
525-428-2*

货号(inch)
525-436-1*
525-436-2*
525-437-1*
525-437-2*
525-438-1*
525-438-2*
 

 

 

 

型号
SV-C3100S8
SV-C3100S8
SV-C3100H8
SV-C3100H8
SV-C3100W8
SV-C3100W8

货号(mm)
525-466-1*
525-466-2*
525-467-1*
525-467-2*
525-468-1*
525-468-2*

货号(inch)
525-476-1*
525-476-2*
525-477-1*
525-477-2*
525-478-1*
525-478-2*

X1轴测量范围
200mm
200mm
200mm
200mm
200mm
200mm

检测器测力
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN

垂直移动
300mm电动立柱
500mm电动立柱
500mm电动立柱

花岗岩基座尺寸(WxD)
610x450mm
610x450mm
1000x450mm

尺寸(主机、WxDxH)
1005x575x966mm
1005x575x1176mm
1408x575x1176mm

重量(主机)
140kg
150kg
220kg